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场发射透射电子显微镜(Talos F200X G2)试运行公告

发布时间 :2024-11-15 16:48  来源:

武汉大学科研公共服务条件平台化学院分平台场发射透射电子显微镜(Talos F200X G2)已经安装调试完毕,即日起对校内开放试运行,试运行期间免收机时费,欢迎校内师生预约测试!

一、基本参数

型号:Talos F200X G2

厂家:美国Thermo Fisher公司

电子枪类型:超高亮度高稳定度的肖特基场发射电子枪

加速电压:20 kV – 200 kV

HRTEM 分辨率≤0.10 nm

STEM 分辨率 ≤0.16 nm

放大倍数:LM模式25x-2300x

M模式2300x-3300x

SA模式3300-630Kx

Mh模式630Kx-1.05Mx

STEM模式5000x-330Mx

相机:Ceta-S

能谱: 采用四个对称式能谱探头, 四个无窗设计SDD硅漂移探测器构成完全旋转对称分布设计的多探头系统

二、功能特色

本仪器配备三个STEM探头,包括高角环形暗场探测器(HAADF)和同轴明场/暗场探测器。同时配备实时的积分相位衬度像(iDPC)成像功能,可在同一幅STEM图像中同时获取轻重元素的清晰衬度,同时支持在极低束流下对MOF等电束敏感材料进行低损伤高衬度成像。采用四个对称式能谱探头, 四个无窗设计SDD硅漂移探测器构成完全旋转对称分布设计的多探头系统。可实现对样品极快速精准的 EDS的点、 线、面 、分析。

三、应用领域

透射电子显微镜如今已经广泛应用于自然科学各领域,尤其在物理、化学、生物、医学和材料科学等方面。Talos F200X G2因具有较高分辨率,较好的微区分析能力,在研究材料的聚集态结构、形貌特征、晶体结构分析、材料元素的定性和定量分析等方面发挥着不可代替的作用。

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